Mikroštrukturálna analýza materiálov

Pokročilá príprava vzoriek FIB na úrovni procesných plátkov{0}} a služby analýzy TEM poskytujú presnú prípravu vzoriek a riešenia štrukturálnej analýzy pre pokročilé procesné čipy vykonávaním

GRGTEST Metrology poskytuje profesionálne analytické služby s duálnym-lúčom zameraným iónovým lúčom (DB-FIB). Populárne testovacie služby zahŕňajú vzorové rezy TEM pre pokročilé procesy (14 nm a

Transmisná elektrónová mikroskopia (TEM) sa stala nepostrádateľným analytickým nástrojom v oblasti materiálov a polovodičov. Je to elektrónový optický prístroj, ktorý používa vysokoenergetický

Zariadenia na štiepenie plátkov a zobrazovacie služby SEM sú kľúčovou technologickou podporou pre vedu o materiáloch, elektronický priemysel a biomedicínsky výskum a sú obzvlášť vhodné na pozorovanie

Mikroskop s atómovou silou Bruker Dimension ICON6 podporuje 12 režimov, vrátane kontaktu, poklepania a poklepania špičkovou silou, aby vyhovoval testovacím potrebám rôznych vzoriek a poskytoval rôzne

EDS je skratka pre Energy Dispersive Spectrometer, čo je metóda analýzy röntgenovej energie disperznej spektroskopie -. Jeho princíp je založený na skutočnosti, že rôzne prvky vyžarujú

Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching