POPIS PRODUKTU
Keďže technológia napredovala rýchlym tempom, všetky druhy polovodičových výkonových zariadení sa teraz dostali do štádia komerčnej aplikácie z laboratórnej fázy. Platí to najmä pre tretiu generáciu polovodičových zariadení reprezentovaných SiC--, ktoré urýchlili proces lokalizácie. Trh s automobilovými diskrétnymi zariadeniami však ovládali zahraniční giganti, takže domácim zariadeniam bolo ťažké získať kúsok akcie. A jedným z hlavných dôvodov tohto javu je, že spoľahlivosť našich produktov nie je dobre známa.
Testovací cyklus
2-3 mesiacov, počas ktorých bude poskytovaný komplexný plán certifikácie, testovanie a ďalšie služby
Rozsah produktu
Polovodičové diskrétne zariadenia, ako sú dióda, trióda, tranzistor, MOS, IBGT, TVS trubica, Zener a tyratrón
Testovacie položky
|
S/N |
Testovacia položka |
Skratka |
Číslo vzorky/šarže |
Číslo šarže |
Testovacia metóda |
| 1 | Elektrický a fotometrický test pred a po napätí | TEST |
Testujte pred a po všetkých záťažových testoch |
Užívateľské špecifikácie alebo štandardné špecifikácie dodávateľa |
|
| 2 | Predkondicionovanie | PC |
Pred testami 7, 8, 9 a 10 predbežne upravte produkty SMD |
JESD22-A113 | |
| 3 | Externý vizuál | EV |
Test pred a po každom teste |
JESD22-B101 | |
| 4 | Parametrické overenie | PV | 25 | 3 Poznámka A |
Užívateľské špecifikácie |
| 5 | Vysoká teplota Reverzná zaujatosť |
HTRB | 77 | 3 Poznámka B | MIL-STD-750-1 M1038 Metóda A |
| 5a | AC blokovanie Napätie |
ACBV | 77 | 3 Poznámka B | MIL-STD-750-1 Testovacia podmienka M1040 A |
| 5b | Vysoká teplota Forward Bias |
HTFB | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-108 |
| 5c | Ustálený stav Operatívne |
SSOP | 77 | 3 Poznámka B | MIL-STD-750-1 M1038 Stav B (Zeners) |
| 6 | Vysoká teplota Gate Bias |
HTGB | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-108 |
| 7 | Teplota Jazda na bicykli |
TC | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-104 Dodatok 6 |
| 7a | Teplota Horúci test na bicykli |
TCHT | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-104 Dodatok 6 |
| 7a alt |
Delaminácia TC Test |
TCDT | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-104 Dodatok 6 J-STD-035 |
| 7b | Integrita drôteného spoja | WBI | 5 | 3 Poznámka B | MIL-STD-750 Metóda 2037 |
| 8 | Nezaujatý vysoko Zrýchlený stres Test |
UHAST | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-118 |
| 8 alt |
Autokláv | AC | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-102 |
| 9 | Vysoko zrýchlené Náporový test |
HAST | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-110 |
| 9 alt |
Vysoká vlhkosť Vysoká teplota Reverzná zaujatosť |
H3TRB | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-101 |
| 10 | Prerušované Prevádzková životnosť |
IOL | 77 | 3 Poznámka B | MIL-STD-750 Metóda 1037 |
| 10 alt |
Napájanie a Teplotný cyklus |
PTC | 77 | 3 Poznámka B | JESD22 A-105 |
| 11 | ESD Charakterizácia |
ESD | 30 HBM | 1 | AEC-Q101-001 |
| 30 CDM | 1 | AEC-Q101-005 | |||
| 12 | Deštruktívne Fyzikálna analýza |
DPA | 2 | 1 Poznámka B | AEC-Q101-004 Časť 4 |
| 13 | Fyzické Rozmer |
PD | 30 | 1 | JESD22 B-100 |
| 14 | Koncová sila | TS | 30 | 1 | MIL-STD-750 Metóda 2036 |
| 15 | Odolnosť voči Rozpúšťadlá |
RTS | 30 | 1 | JESD22 B-107 |
| 16 | Konštantné zrýchlenie | CA | 30 | 1 | MIL-STD-750 Metóda 2006 |
| 17 | Variabilné vibrácie Frekvencia |
VVF |
Položky 16 až 19 sú sekvenčné testy zapečatených obalov. (Pozri poznámku H na stránke legendy.) |
JEDEC JESD22-B103 |
|
| 18 | Mechanický Šok |
PANI | JEDEC JESD22-B104 |
||
| 19 | Hermetickosť | JA | JESD22-A109 | ||
| 20 | Odolnosť voči Spájkovacie teplo |
RSH | 30 | 1 | JESD22 A-111 (SMD) B-106 (PTH) |
| 21 | Spájkovateľnosť | SD | 10 | 1 Poznámka B | J-STD-002 JESD22B102 |
| 22 | Termálne Odpor |
TR | 10 | 1 | JESD24-3,24-4,26-6 V závislosti od situácie |
| 23 | Drôtená väzba Pevnosť |
WBS |
10 spájkovacích drôtov pre minimálne 5 zariadení |
1 | MIL-STD-750 Metóda 2037 |
| 24 | Bond Shear | BS | 10 spájkovacích drôtov pre minimálne 5 zariadení | 1 | AEC-Q101-003 |
| 25 | Die Shear | DS | 5 | 1 | MIL-STD-750 |
| Metóda 2017 | |||||
| 26 | Odopnuté Indukčné Prepínanie |
UIS | 5 | 1 | AEC-Q101-004 Sekcia 2 |
| 27 | Dielektrická integrita | DI | 5 | 1 | AEC-Q101-004 Časť 3 |
| 28 | Skrat Spoľahlivosť Charakterizácia |
SCR | 10 | 3 Poznámka B | AEC-Q101-006 |
| 29 | Bez olova | LF | AEC-Q005 | ||
Populárne Tagy: Certifikačný test aec-q101 pre polovodičové diskrétne zariadenia, Čína Certifikačný test aec-q101 pre poskytovateľa služieb pre polovodičové diskrétne zariadenia, Analýza zlyhania na pridelenie zdrojov, Analýza zlyhania procesu, Analýza zlyhania na ochranu životného prostredia, Analýza defektov pri zlyhaní, Analýza zlyhania na podporu spätnej väzby, Analýza zlyhania pre startupy
